据外媒报道，日本光侦测器制造商Hamamatsu Photonics(滨松光子)开发了一个名为MiNY PL的高速检测系统，可在晶圆上快速检测Micro LED芯片的质量。

滨松光子表示，MiNY PL系统采用光致发光测试技术(PL)来检测LED芯片外表、发光强度和波长的异常问题，所用光致发光测试技术是基于滨松光子的图像处理技术和新开发的成像模组。在检测Micro LED芯片时能够快速判断芯片是否合格，有利于提升显示用Micro LED产品的良率及Micro LED的研发效率。

图片来源：滨松光子

Micro LED尺寸微缩化，芯片使用数量和转移接合过程的工作量都大幅增加，若芯片缺陷率过高，就会降低后续制程的生产良率，增加返修工作量和整体成本。眼下相关消息表明了芯片质检环节已有所突破，这对于Micro LED产业来说，是个好消息。