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Mini/Micro-LED加速量产,显示器件良率提升有话要说!

2022-05-06 11:05 来源:半导体照明网

显示技术也日新月异,已经成为我们日常生活不可或缺的组成部分。从各种消费者器件到大型灯箱广告,以及流行的车载显示和虚拟现实等高新显示技术,都推动了显示器件从传统的液晶显示(LCD)过渡到有机发光二极管(OLED)以及微发光二极管(micro-LED)等新技术。

据了解,今年Touch Taiwan 2022 上,富采/聚积/友达/錼创大秀Mini/Micro LED技术。其中,LED整合大厂富采因应市场需求,今年持续扩建MiniLED产能,预计今年集团两岸MiniLED产能将再提升25%,同时亦积极与客户整合巨量转移技术、加速Micro LED导入量产进程。

另外,錼创成功发表9.38英寸、114ppi、分辨率为960x480的透明Micro LED显示器,穿透率达65-70%。錼创表示,>70%将可符合车厂所要求的规格,未来将有可能导入车用市场之中。

这些新技术的诞生为半导体器件生产过程中的良率提升及失效分析带来了新的挑战。不论是Mini/Micro-LED还是OLED,技术都需要更严格的设计和生产参数。对于主流显示技术而言,加工工艺控制(例如:测量)和失效分析(FA)是提高良率和质量的关键。有分析指出,最新的显示屏结构需要对背板和发光单元的关键尺寸(横向和纵向)进行精确控制。而这就需要高度精准的测量。由于颗粒、污染或工艺偏差造成的缺陷会严重影响良率和质量,因此在产品生命周期的早期阶段,越来越详细的失效分析是必不可少的。因此,如何快速有效的提升良率,并对失效进行关键性分析,就成为半导体工业界所面临的重要挑战。

据了解,在半导体器件的研发、测量和失效分析方面,赛默飞世尔科技提供一套独特而全面的工作流程,来满足显示设备制造商的需求。其测量解决方案提供卓越的可复现性和高质量的纳米级分析能力。对于缺陷的隔离和分析,赛默飞的扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)和透射电子显微镜(TEM)的解决方案可提供自动化、高精度的样品制备和行业领先的成像技术。

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